Statistical Process Control (SPC) o Control Estadistico de Procesos nos ayuda a determinar si un proceso es «estable» y «capaz» de alcanzar las necesidades requeridas por el cliente. Los productos CAPTOR-S y CAPTOR-C nos ayudan en gran medida a collectar datos y analizarlos en tiempo real mediante un sistema wireless y con total fiabilidad.
Os presentamos NEMO que es una novedad de MARPOSS que permite medir con 8 sensores a la vez y mostrar de forma gráfica sus resultados. Está pensado para sustituir a las columnas de medición, con un sistema muy similar al MERLIN pero más simple, pequeño y económico.
Nahum es un lector habitual de este blog y en uno de sus comentarios en el artículo «Que és Cpk?» nos ha definido muy bien la diferencia entre Cp y Cpk, y por este motivo he querido reproducirlo en este post por que puede interesar a muchos lectores: «Cp nos dice que tan CAPAZ es …
En nuestro primer artículo de presentación del sistema de adquisición de datos CAPTOR-S, os explicamos el funcionamiento y las ventajas de este sistema a la hora de controlar piezas en útiles de control. Hoy, podréis ver en detalle el contenido de un kit completo CAPTOR-S gracias a al vídeo de presentación que podréis ver en …
Con esta herramienta muy sencilla de utilizar podréis ver rápidamente el ahorro basado en tiempo de medición que os puede llegar a suponer el uso de CAPTOR-S respecto al sistema tradicional. Basta con introducir los 4 valores en los campos de color rojo para ver el resultado en la parte inferior de la tabla. Si …
Tal como ya anunciábamos el mes pasado en este blog, os presentamos en primicia el sistema CAPTOR-S que permite captar datos medidos por reloj comparador (sin cables) y es aplicable a todos los útiles de control existentes. Los datos son enviados a una PDA que almacena los datos para ser transferidos posteriormente a un fichero …
CAPTOR-S : medición por reloj comparador y captación de datos sin cables Leer más »
En el mundo industrial se supone que la mayoría de procesos se comportan con resultados que se distribuyen según la ley de normal o de Gauss y en ello se basan todos los cálculos del SPC de tanta utilidad para conocer la idoneidad de un proceso. Parece interesante, por tanto, conocer si nuestro proceso sigue …
Asimetría y Curtosis: No emplear Cpk a tontas y a locas. Leer más »
Después de haber realizado algunos post sobre Cpk algunos seguidores nos han pedido que expliquemos con palabras llanas el concepto y que si podemos pongamos un ejemplo. Premisas: Tenemos definido un proceso al final del cual tenemos como resultado un servicio o un producto. Sigamos hablando solamente de un producto. Este producto que se fabrica …
Como ya sabéis, Measure Control está siempre buscando nuevos puntos de vista y perspectivas que presentaros mediante nuestras entrevistas. Para la entrevista de hoy, incluso cruzamos el Atlántico para encontrar la buena persona! Jeffery Younginer es el Director de los Métodos y del Soporte de Producción de Nissan América del Norte, y aceptó muy amablemente …
Entrevista de Jeffery Younginer, Nissan América del Norte Leer más »
Quisiera enlazar este post con el realizado por Gladys en este blog titulado «Qué es Cpk?«. Concretamente voy a adentrarme en una de las fuentes de error anunciado en ese post a propósito del tamaño de la muestra. ¿Alguno de Uds. se ha encontrado en ocasiones que, ante el requisito de su cliente de Cpk …
