Nanometría: Metrología para la nanotecnología

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Los días 14 y 15 de junio tendrá lugar en Turín (Italia) un seminario sobre la metrología para la nanotecnología.

El acto estará orientado hacia la aplicación, e incorporará experiencias y necesidades industriales reales. Éste reunirá a usuarios y expertos industriales de la comunidad de metrología de Italia, así como a expertos internacionales para debatir las necesidades de la nanometría y los avances más recientes, especialmente por lo que se refiere a técnicas y métodos de medición, instrumentación y estándares.

Las sesiones temáticas abordarán:
– nanofabricación, técnicas descendentes, nanoelectrónica y dispositivos cuánticos;
– superficies, capas y metrología a escala atómica;
– materiales nanoestructurados, nanocompuestos, análisis de partículas;
– técnicas interdisciplinarias.

Para obtener más información, visite:
http://www.nanotec.it/

Observaciones: Una convocatoria de posters estará abierta hasta el día 30 de abril de 2007

3 comentarios en “Nanometría: Metrología para la nanotecnología”

  1. Miguel,

    No soy un experto en la materia, pero deduzco que el prefijo nano viene del nanometro que no es más que una medida: la millonesima parte de un milimetro. Los científicos de este campo se mueven en escalas que no suelen superar la micra.
    El prestigioso científico navarro Javier Tejada podría darnos unas clases magistrales sobre las múltiples aplicaciones que tiene esta ciencia.

  2. Pingback: Measure Control » Feria Micronora, Besançon, Francia

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